Данные Journal Metrics на базе Scopus

Данные метрик журналов 2014 года выложены в свободном доступе на сайте JournalMetrics.com. Значения Journal Metrics 2014, которые учитывают Source Normalized Impact per Paper (SNIP), SCImago Journal Rank (SJR) и Impact per Publication (IPP), сейчас размещены на Scopus.com.

Новые данные для подписчиков Scopus на страницах Сравнить журналы и Обзор источников, а также в свободном доступе – Public Title List. Актуальные значения отражают метрики уровня цитируемости в 2014 году для 22,639 периодических изданий по всем предметам в области науки, искусства, социальных и гуманитарных наук.

Все журналы, включенные в Scopus, получают метрические значения. Глобальный охват Scopus многим журналам, которые ещё не имеют импакт-фактор, позволяет понять свою роль в научной издательской среде. Метрические значения базовых журналов Scopus доступны бесплатно на JournalMetrics.com и в списке названий – Public Title List. Показатели цитирования для исследователей имеют важное значение, поэтому специально для них в бесплатной версии на сайте Journalmetrics более 34000 текущих и ретроспективных названий периодических названий и дополнительно 18,238 разовых и многолетних выпусков.

Как найти значения журнала в Scopus (доступ для подписчиков Scopus):

1) Перейдите в Scopus.com и выберите Обзор источников:

Поиск по названию журнала. Результаты включают значения SJR, IPP и SNIP на 2014 год:

2) Перейдите в Scopus.com и выберите пункт Сравнение журналов:

Поиск по Названию журнала, ISSN, Издательству или ключевому слову. После того, как журнал был выбран, показатели будут отображаться в графе (например, SJR метрика):

О Scopus

Scopus — крупнейшая реферативная база данных, содержащая аннотации и информацию о цитируемости рецензируемой литературы со встроенными библиометрическими механизмами отслеживания, анализа и визуализации данных. Ресурсы Scopus представлены в областях фундаментальных, общественных и гуманитарных наук, техники, медицины и искусства — журналы, книжные серии, книги, материалы конференций и патенты.

Источник
Перевод: Соболевская Ю.В.